集成內(nèi)差探測(cè)相干接收機(jī)測(cè)試

為了檢測(cè)復(fù)雜的調(diào)制光信號(hào)，QIF業(yè)已定義了一個(gè)電光元件，通常被稱(chēng)為集成內(nèi)差探測(cè)相干接收機(jī)（ICR）。該元件由光元件和電光元件構(gòu)成，可作為被測(cè)器件。

這種混合元件需要整合所包含的多個(gè)元器件，從而作為黑盒相干接收機(jī)進(jìn)行無(wú)縫操作。

該集成元件應(yīng)當(dāng)在研發(fā)和制造階段接受測(cè)試。

N4392A提供選件310和430，以測(cè)試此類(lèi)器件，并提取用于表征該元件特性的參數(shù)。

使用N4392A，您將能夠在等同于最終應(yīng)用的環(huán)境中對(duì)元件執(zhí)行測(cè)試，從而對(duì)元件的性能充滿(mǎn)信心：

-  N4392A在檢測(cè)頻帶中生成差拍信號(hào)并發(fā)送到ICR光輸入端，即可執(zhí)行這種測(cè)試

-  該測(cè)試適用于驗(yàn)證ICR在反射噪聲減損和所有失真時(shí)的固有性能

-  通過(guò)一個(gè)接近完美的差拍信號(hào)生成另一個(gè)ICR信號(hào)時(shí)，IQ和星座圖能夠顯示該信號(hào)的噪聲與失真用于量化信號(hào)質(zhì)量的相同參數(shù)（EVM、IQ偏置、IQ失衡、正交誤差）也可用來(lái)量化該元件的股友性能

-  在頻譜顯示中，鏡像抑制能夠很好地反映在相干接收機(jī)中通道與PIN二極管之間的失衡良好的鏡像抑制和較高的共模抑制比意味著接收機(jī)的平衡性能很高

鏡像抑制能夠很好的地反映光接收機(jī)中的潛在失真。大于35dB的鏡像抑制率表明，均衡PIN二極管具有極高的CMRR,且被測(cè)ICR的I-Q通道經(jīng)過(guò)了適當(dāng)?shù)钠菩Ｕ?/p>

EVM是考量復(fù)雜調(diào)制信號(hào)整體質(zhì)量的重要指標(biāo)。這一概念可應(yīng)用于上述測(cè)試：在ICR中生成一個(gè)差拍信號(hào)，并采取復(fù)雜調(diào)制信號(hào)的分析方法對(duì)其進(jìn)行分析。這可以仿真ICR的理想激勵(lì)。通過(guò)執(zhí)行這個(gè)測(cè)試，您可在被測(cè)器件的接收機(jī)帶寬和數(shù)字轉(zhuǎn)換器帶寬范圍內(nèi)，對(duì)單個(gè)頻率點(diǎn)上的EVM進(jìn)行測(cè)量。EVM測(cè)量可使您進(jìn)一步分析被測(cè)器件，確保每個(gè)被測(cè)頻率點(diǎn)上的無(wú)失真測(cè)量結(jié)果都具有良好的EVM。